从材料科学到生命科学，从半导体工业到新能源研究，有一台仪器堪称“微观世界的超级侦探”，它就是场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）。不管是观察纳米级的材料细节，还是分析生物样本的表面结构，FE-SEM用三点硬核实力，成为科研路上不可替代的“微观利器”！
一、超高分辨率：看清纳米级的“微观细节”
肉眼能看清的最小物体约0.1毫米，普通光学显微镜最多放大几千倍，而FE-SEM就像“微观放大镜PLUS”，分辨率能达到1纳米。简单说：普通钨灯丝扫描电镜（SEM）只能看清“微米级”（头发丝的几百分之一）的结构，而FE-SEM能直接看到纳米级（头发丝的万分之一）的颗粒、裂纹、微小器件电路。不管是锂电池电极的微小裂纹、碳纳米管的精细结构，还是芯片上的纳米级电路缺陷，它都能拍得清清楚楚，这是普通显微镜做不到的。
二、大景深+立体成像：微观世界也有“3D质感”
光学显微镜看稍微凹凸的样品，容易“模糊一片”，只能看清一个平面；而FE-SEM的大景深是一绝，不管样品表面多粗糙、高低差多大，都能全程清晰成像，自带3D立体感。用它看金属断口、多孔材料，能直观看到立体的断裂纹路和孔隙结构，不用复杂处理就能还原样品真实形貌。这种“立体高清”效果，对分析材料断裂原因、生物表面结构特别关键。
三、样品制备简单+多信号检测：省事又能“一测多获”
FE-SEM对样品特别“友好”：
1. 制备简便：大部分固体样品（金属、陶瓷、高分子等），只要干燥、固定好就能测；不导电样品简单喷层薄金（或用低真空模式）即可，不用像透射电镜那样把样品切成几纳米的薄片，省时又省力。
2. 多信号检测，信息拉满：它不只能看形貌，还能搭配探测器，一次测试拿多种数据：
- 二次电子信号：看表面凹凸形貌；
- 背散射电子信号：区分不同元素的分布（重元素亮、轻元素暗）；
- 搭配EDS能谱：直接分析样品的化学元素。
- 搭配EBSD分析：材料晶体取向、物相分布、晶粒形貌、晶界特征。
简单说：一台FE-SEM，既能“看长相”（形貌），又能“查成分”（元素），还能“看结构”（晶体取向），一站式解决科研中的微观分析需求，效率直接拉满。
四、设备型号及配置
大连理工大学宁波研究院公共检测服务平台现配备蔡司 Sigma360 场发射扫描电子显微镜，搭载牛津 Ultim Max 能谱仪、牛津 EBSD 电子背散射衍射仪。设备可开展微观形貌观测、EDS 元素分析、EBSD 晶体结构分析及背散射形貌分析等检测项目，目前已全面对外开放，可为院内外各单位提供专业检测服务。
五、送样要求
样品尺寸：直径≤φ100mm；高度＜40mm；重量＜2Kg；
样品性能：导电；
EDS样品：表面平整光滑，无污染物；
EBSD样品：表面平整光滑，无应力层，机械抛+等离子抛/机械抛+电抛。
六、联系我们
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